セミナー

*技術相談つき*
設計者・品質管理者のための
「機器分析技術の基礎」

チラシダウンロード(PDF)

開催主旨

  モノづくりでは、各工程において、きちんと設計通りの形で、かつ性能を発揮でき、量産可能なものができているかを評価・分析し、フィードバックさせながら開発を進めて行くことが重要です。さらに、自信を持ってフィールドに出した後、何らかの原因で思いもよらない不具合が発生することもありますので、その原因を評価・分析し、その結果をモノづくりにフィードバックして再発防止を行っていくことも重要な因子です。すなわち、モノづくりと評価・分析技術は製品を作っていく上で、車の両輪を形成するものと言えます。
 本講座では、モノづくりに携わる方々が評価・分析を行う上での基礎を紹介します。具体的には、各分析手法の豊富な事例を基にどのような場面でどのような分析手法を活用すれば良いのかをやさしく紹介します。なお、本講座の事例、写真などは講師が㈱島津製作所様の全面的ご協力を得ております。
また、RoHS関連分析を例として、実際の分析の流れを紹介します。
 多くのモノづくりに携わる設計者・品質管理者の参加をお奨めします。

※講義終了後に【技術相談】を個別に致します。ご希望の方は申込みフォームの備考欄に技術相談希望とご記入ください。

概要

日時 2017年 3月 23日(木)10:00~17:00
会場 日刊工業新聞社 東京本社 セミナールーム
受講料 43,200円(資料代、消費税込)
※1社複数名のご参加の場合、2人目より10%割引(38,880円)致します。
   ただし、同セミナーを受講される場合のみ適用させて頂きます。
※振込手数料は貴社でご負担願います。
※受講料は銀行振込にて開催日までに必ずお支払いください。尚、お支払い済みの受講料はご返金できかねますので、ご了承ください。
主催 日刊工業新聞社
お問い合わせ先

日刊工業新聞社 業務局
イベント事業部 技術セミナー係
TEL: 03-5644-7222
FAX: 03-5644-7215
E-mail : j-seminar@media.nikkan.co.jp

講師

飯川 三無 氏

会場アクセス

日刊工業新聞社 東京本社
セミナールーム
東京都中央区
日本橋小網町14ー1
住生日本橋小網町ビル
セミナー会場案内図

このセミナーを申し込む

プログラム

 1. 分析とは
 1.1 分析の定義
 1.2 分析の手法 他
 2. 形態観察法
 2.1 走査型電子顕微鏡(SEM)
 2.2 透過型電子顕微鏡(TEM)(各種試料作成方法)
 2.3 走査型プローブ顕微鏡(SPM)
 2.4 レーザ顕微鏡(LSM)
 2.5 マイクロフォーカスX線透視/CT装置
 3. 表面/界面分析法
 3.1 蛍光X線分析(XRF)
 3.2 電子線マイクロアナリシス(EPMA)
 3.3   オージェ電子分光分析(AES)
 3.4   X線光電子分光分析(XPS)
 3.5   グロー放電分光分析(GD)
 4. 無機/有機分析法
 4.1 誘導プラズマ発光分光分析(ICP-AES)
 4.2 フーリェ変換型赤外分光分析(FT-IR)
 4.3 ラマン分光分析法
 4.4 ガスクロマトグラフ-質量分析(GC-MS)
 4.5 液体クロマトグラフ-質量分析(HPLC)
 4.6   イオンクロマトグラフ分析(IC)
 4.7   各種熱分析(TG-DTA、TMA)
 5. RoHS分析の実際
 5.1 Cd、Pb、Hg、Cr6+の分析
 5.2 PBB、PBDEの分析
 5.3 フタル酸の分析
 5.4 蛍光X線簡易分析
 5.5 分析の精度管理
 6. 分析とは(おわりに)
 6.1 分析とは
 6.2 故障の未然防止サイクル

このセミナーを申し込む

一覧へ戻る

日刊工業新聞社関連サイト・サービス