セミナー

【ライブ配信&後日の録画視聴可】
講師の経験や知見を詳しく解説!
半導体製造における後工程の
パッケージング・実装・設計の基礎

開催主旨

 現在、半導体は単なる電子部品から、経済安全保障の鍵となる重要コンポーネントへと位置づけが大きく変化しています。前工程では2ナノメートルといった最先端技術が注目されますが、多くの半導体は最先端技術を必要としていないのが実情です。一方で、高性能化を追求する最先端デバイスにおいては、異なる機能を持つ複数のチップ(チップレット)を集積し、トータル性能を向上させる「ヘテロジーニアスインテグレーション」へと技術開発の方向性が進んでいます。

 本講座は、この半導体後工程(パッケージング・実装)の基礎と、現在進行形の革新的な技術(2.5D/3Dパッケージング、チップレット技術など)を体系的に学ぶ絶好の機会です。

 長年、半導体後工程関連技術に携わってきた講師が、各パッケージングプロセスの基礎技術から、現場で実際に遭遇した開発当時の失敗談や苦労話、そしてそこから得られた実践的な知見やキーポイントを、具体的な事例(チップクラック、ワイヤー断線、ポップコーンクラック、BGAボール破断、捺印ミスなど)と共に詳細に解説します。

 パッケージング・実装・評価技術の全体像を深く理解することで、自社の製品開発や品質向上、サプライヤーとの連携、および将来の技術動向への対応に役立つ、即効性の高い専門知識を得ることができます。

 

受講対象

【このような課題・目的をお持ちの技術者・研究者の方に最適】
■半導体メーカー、OSAT(後工程専門受託企業) の製造・開発・品質保証部門の方
■2.5D/3Dパッケージングやチップレット技術といった最新動向を理解し、今後の開発に活かしたい方
■化学、材料、装置メーカー の研究・技術開発・営業部門の方
■RoHS、鉛フリー、PFAS規制など環境対応・グリーン化に関する最新の課題と技術動向を知りたい方
■エレクトロニクス、自動車メーカー など、半導体ユーザー企業の技術者・研究者

 

習得可能知識

■半導体パッケージング・実装技術の基礎と全体像
■後工程における実践的な不具合事例と対策
■高度な評価・解析技術と信頼性基準
■最新の先端パッケージング技術と動向
■環境規制(RoHS等)対応とグリーン化の課題
■2.xD/3.xDパッケージングとチップレットについて


 本セミナーは、オンライン形式でのセミナーとなります。オンラインでのご視聴方法(参加用URL等)はご登録くださいましたメールにお知らせいたします。ZOOMでの視聴が困難な方には別途、こちらの手順を参照のうえブラウザ上でご視聴ください。

概要

日時 2026年 2月 10日(火)13:00~17:00

※開催当日12:00まで申込受付

受講料

39,600円(テキスト代、録画視聴、税込、1名分)

※テキストはメールでお知らせします。

※振込手数料は貴社でご負担願います。開催決定後、受講料の請求書(PDF)ををメールでお知らせします。
※講座実施前の入金をお願いしておりますが、講座実施後の入金にも対応しています。

※当日の参加が難しい方は録画での参加も可能です。録画での参加を希望される方は、申込フォームでご選択ください。

※録画視聴は当日参加された方も講座終了後10日間にわたりご視聴いただけます。

主催

日刊工業新聞社

問い合わせ先 日刊工業新聞社 西日本支社 総合事業本部 セミナー係
TEL : 06-6946-3382
FAX : 06-6946-3389
E-mail : seminar-osaka@media.nikkan.co.jp

講師

蛭牟田 要介 氏

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プログラム

1.半導体パッケージの基礎~パッケージの進化・発展経緯~

1-1 始まりはSIPとDIP、プリント板の技術進化に伴いパッケー ジ形態が多様化
1-2 THD(スルーホールデバイス)とSMD(表面実装デバイス)
1-3 セラミックスパッケージとプラスチック(リードフレーム)パッケージとプリント基板パッケージ

2.パッケージングプロセス(代表例)

2-1 セラミックスパッケージのパッケージングプロセス
2-2 プラスチック(リードフレーム)パッケージのパッケージングプロセス
2-3 プリント基板パッケージのパッケージングプロセス

3.各製造工程(プロセス)の技術とキーポイント

3-1 パッケージング前工程
 3.1.1 BG(バックグラインド)とダイシング
 3.1.2 DB(ダイボンド)
 3.1.3 WB(ワイヤーボンド)
3-2 封止・モールド工程
 3.2.1 SL(封止:セラミックパッケージの場合)
 3.2.2 モールド
3-3 パッケージング後工程
 3.3.1 外装メッキ
 3.3.2 切断整形
 3.3.3 ボール付け
 3.3.4 シンギュレーション
 3.3.5 捺印
3-4 バンプ・FC(フリップチップ)パッケージの工程
 3.4.1 再配線・ウェーハバンプ
 3.4.2 FC(フリップチップ)
 3.4.3 UF(アンダーフィル)
3-5 試験工程とそのキーポイント
 3.5.1 代表的な試験工程
 3.5.2 BI(バーンイン)工程
 3.5.3 外観検査(リードスキャン)工程
3-6 梱包工程とそのキーポイント
 3.6.1 ベーキング・トレイ梱包・テーピング梱包

4.過去に経験した不具合

4-1 チップクラック
4-2 ワイヤー断線
4-3 パッケージが膨れる・割れる
4-4 実装後、パッケージが剥がれる
4-5 BGAのボールが落ちる・破断する
4-6 捺印方向が180度回転する

5.試作・開発時の評価、解析手法の例

5-1 とにかく破壊試験と強度確認
5-2 MSL(吸湿・リフロー試験)
5-3 機械的試験と温度サイクル試験
5-4 SAT(超音波探傷)、XRAY(CT)、シャドウモアレ
5-5 開封、研磨、そして観察
5-6 ガイドラインはJEITAとJEDEC

6.RoHS、グリーン対応

6-1 鉛フリー対応
6-2 樹脂の難燃材改良
6-3 PFAS/PFOA/対応が次の課題

7.今後の2.xD/3.xDパッケージとチップレット技術

7-1 2.5Dパッケージ・3D/3.5Dパッケージ(ヘテロジーニアスインテグレーション)
7-2 立体構造の実現技術;ハイブリッドボンディングとマイクロバンプ接合
7-3 基板とインターポーザーの進化が未来を決める

8.まとめ・質疑応答

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